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干涉條紋如何計算平面平晶的面形誤差?
發(fā)布時間:2014-09-16瀏覽次數(shù):2033返回列表
摘要:平面平晶測量工作面的平面度,它的面形誤差是如何計算的,下面小編詳細介紹。
、平面平晶測量工作面的平面度
平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度,亦可用于檢定的平面零件。平面平晶:特別適用于計量單位、實驗室作為標準平面和樣板。
第二、平面平晶的平面度偏差值范圍
1.直徑為30至100- 1級平晶0.035m
2.直徑為100至300mm I級平晶0.055m
3.更大尺寸平面平晶平面度偏差允許值,根據(jù)標準。
4.平面平晶工作面的局部偏差允許值為:0.03 5 m
5.平面平晶測量工作應在室溫20℃士3C條件下保持數(shù)小時后進行。
第三、平面平晶的具體參數(shù)
1.每組平行平晶共四塊,分四個尺寸系列組。
2.測量面上平面度偏差:<0.1UM。
3.平行度局部偏差: >0.03UM。
4.測量面平行度誤差:組1系列允許差值:0.06UM。
5.組2、3系列允許差值:0.08UM。
6.組4系列允許差值:0.1UM。
第四、用干涉條紋來計算平晶的面形誤差
如果要定量計算,一般好是用移相干涉法,可以得到每一點的相對高度,從而得到整個面的面形。如果只有一幅干涉圖,就只能傾斜平晶或者參考鏡使得干涉條紋變成密集的直線組,然后用傅里葉變換法求解。如果只是定性的看一看面形好壞則比較簡單了,如果條紋都是直條紋,說明面形是好的,如果條紋彎的就說明面形不好,彎的越厲害面形越差。