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   SMPS+C掃描電遷移率粒徑譜儀
     Grimm公司的SMPS+C系統(tǒng)如圖1所示，是由一個(gè)凝聚核粒子計(jì)數(shù)器(CPC)和一個(gè)靜電遷移率分析儀(Vienna型DMA)組成，是一種用來測量粒徑在5～1100nm范圍內(nèi)的超細(xì)氣溶膠顆粒的高科技產(chǎn)品。它用DMA來測量顆粒粒徑，并采用CPC來測定顆粒的濃度,DMA的操作流量及電壓控制由CPC的軟件來完成，可使用電池驅(qū)動(dòng)操作以及遠(yuǎn)程控制。


(圖1 SMPS+C掃描電遷移率粒徑譜儀)
SMPS+C的操作原理如圖2所示。多分散的氣溶膠顆粒首先經(jīng)過碰撞切割器除去大的顆粒，然后經(jīng)過镅-241固體放射源靜電中和器，使得顆粒荷電分布至Bolzman平衡狀態(tài)后進(jìn)入DMA。DMA的頂端入口設(shè)計(jì)成U型，以減少顆粒損失；頂端帶有層流器，使得氣流呈層流狀態(tài)流動(dòng)。潔凈干燥的保護(hù)鞘氣與氣溶膠氣流一起自上而下流動(dòng)。DMA的外套筒接地，中心極桿接正壓高壓發(fā)生器。環(huán)境顆粒中帶負(fù)電荷的顆粒將在外套筒與中心極桿之間的電場中發(fā)生遷移。在某一電壓下(對(duì)應(yīng)一定的電場強(qiáng)度)，具有一定荷質(zhì)比的負(fù)電顆粒將遷移至DMA下端狹縫而逸出，其余荷質(zhì)比及其電中性、正電荷顆粒將隨過剩氣流被過濾排出。經(jīng)由狹縫逸出的顆粒為單分散氣溶膠顆粒，進(jìn)入CPC計(jì)數(shù)得出其濃度。軟件控制電壓掃描模式，能實(shí)現(xiàn)對(duì)不同粒徑顆粒濃度分布的掃描檢測，故稱掃描電遷移率粒徑譜儀，其粒徑分辨率非常高，在可測粒徑范圍內(nèi)可達(dá)256個(gè)粒徑通道。兩種不同的DMA可以分別測定5～350nm及10～1100nm粒徑范圍；CPC采用單顆粒計(jì)數(shù)模式濃度高達(dá)15000 P/cm3，采用光度計(jì)模式可測高濃度至107 P/cm3濃度范圍，故SMPS的測量濃度可達(dá)108 P/cm3。