半價優(yōu)惠單晶少子壽命測試儀新款LDX-GZ-LT-2

產(chǎn)品/服務(wù)：半價優(yōu)惠單晶少子壽命測試儀新款LDX-GZ-LT-2
型號：LDX-GZ-LT-2
品牌：利達信
單價：面議
更新日期：2024-09-20
有效期至：長期有效
瀏覽次數(shù)：1090

產(chǎn)品簡介

技　術(shù)　指　標(biāo) ：測試單晶電阻率范圍 >2Ω.cm 可測單晶少子壽命范圍 5μS～7000μS 配備光源類型波長：1.09μm；余輝...

產(chǎn)品詳細介紹

半價優(yōu)惠單晶少子壽命測試儀新款

型號：LDX-GZ-LT-2

LDX-GZ-LT-2型單晶少子壽命測試儀是參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命。半導(dǎo)體材料的少數(shù)載流子壽命測量，是半導(dǎo)體的常規(guī)測試項目之一。本儀器靈敏度較高，配備有紅外光源，可測量包括集成電路級硅單晶在內(nèi)的各種類型硅單晶，以及經(jīng)熱處理后壽命驟降的硅單晶、多晶磷檢棒的壽命測量等。

本儀器根據(jù)通用方法高頻光電導(dǎo)衰退法的原理設(shè)計，由穩(wěn)壓電源、高頻源、檢波放大器，特制的InGaAsp／InP紅外光源及樣品臺共五部份組成。采用印刷電路和高頻接插連接。整機結(jié)構(gòu)緊湊、測量數(shù)據(jù)可靠。

技　術(shù)　指　標(biāo) ：

測試單晶電阻率范圍	>2Ω.cm
可測單晶少子壽命范圍	5μS～7000μS
配備光源類型	波長：1.09μm；余輝<1 μS；閃光頻率為：20～30次／秒；閃光頻率為：20～30次／秒；
高頻振蕩源	用石英諧振器，振蕩頻率：30MHz
前置放大器	放大倍數(shù)約25，頻寬2 Hz-1 MHz
儀器測量重復(fù)誤差	<±20％
測量方式	采用對標(biāo)準(zhǔn)曲線讀數(shù)方式
儀器消耗功率	<25W
儀器工作條件	溫度： 10-35℃、濕度 < 80％、使用電源：AC 220V，50Hz
可測單晶尺寸	斷面豎測：φ25mm—150mm； L 2mm—500mm；縱向臥測：φ25mm—150mm； L 50mm—800mm；
配用示波器	頻寬0—20MHz；電壓靈敏：10mV／cm；

山東利達信儀器儀表設(shè)備有限公司

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Q Q: 3313351303

地址：山東省濟寧市任城區(qū)共青團路43號

：周娜

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