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公司名稱：江蘇天瑞儀器股份有限公司
主營業(yè)務(wù)：RoHS環(huán)保測試儀、RoHS2.0檢測儀、鄰苯測試儀、XRF、鹵素儀、重金屬測試儀、XRF、金屬鍍層測厚儀、金鎳厚測試儀、金屬元素分析...
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金屬鍍層厚度分析儀作原理
發(fā)布時間：2023-06-08瀏覽次數(shù)：1060返回列表
X射線光譜方法測定金屬鍍層厚度是基于束強烈而狹窄的多色X射線與基體和覆蓋層的相互作用。此相互作用產(chǎn)生離散波長和能量的二次輻射，這些二次輻射具有構(gòu)成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積質(zhì)量（若密度已知，則為覆蓋層線性厚度）和二次輻射強度之間存在定的關(guān)系。該關(guān)系由已知單位面積質(zhì)量的覆蓋層校正標準塊校正確定。若覆蓋層材料的密度已知，同時又給出實際的密度，則這樣的標準塊就能給出覆蓋層線性厚度。
金屬鍍層厚度分析儀是集天瑞儀器多年鍍層測厚檢測術(shù)和經(jīng)驗，以特的產(chǎn)品配置、能齊的測試軟件、友好的操作界面來滿足金屬鍍層及含量測定的需要，人性化的設(shè)計，使測試作加輕松成。
