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　　我公司是一精密測試儀器代理商，為香港儀高集團附屬成員。我集團在中國和香港地區(qū)獨家代理美國Thermo-Electron X-射線測厚儀及德國ROENTGENANALYTIK Compact eco系列X-射線測厚儀。此兩種儀器主要用于鍍層或涂層厚度的測量，而且特別適合于對微細(xì)表面積或超薄鍍層的測量。以下是我集團的其他主要產(chǎn)品：

　　新加坡QTEST CIMS 特性阻抗測試儀

　　韓國Micro Pioneer XRF-2000系列測厚儀

　　美國Solar Metrology 太陽能薄膜電池厚度測量儀

　　日本KYORITSU WAK-水質(zhì)離子測試包

　　美國WALCHEM(禾威)電鍍藥液自動添加系統(tǒng)

　　美國OMEGA 600SMD離子污染測試儀

　　美國UPA / VEECO非破壞性厚度測試儀

　　美國EXTEC研磨 / 拋光器材及消耗品

　　英國JENWAY分光光度計

　　美國Kocour庫侖測厚儀、侯氏槽、陰/陽極片、離心機等

　　德國SCAN-DIA研磨 / 拋光器材及消耗品

　　美國INNOV-X伊諾斯RoHS分析儀(手提式:XRF 6500，臺式:Ray-tek1800)

　　美國ECI電鍍藥液分析系統(tǒng)

　　美國DICKSON/DeltaTRAK/OMEGA溫濕度記錄儀

　　日本SHIMADZU(島津)分光光度計、X射線熒光分析儀

　　日本IWAKI工業(yè)用泵

　　韓國K-Mac ST4080-OSP 光學(xué)測厚儀

　　美國SPELLMAN 高壓電源供應(yīng)器

　　日本KETT磁感/渦流涂層測試儀

　　俄羅斯INTRON PTH-1/ITM-52手提式線路板孔銅測厚儀

　　美國RPS可焊性測試儀

　　美國UNITRON工業(yè)用顯微鏡系統(tǒng)及表面光滑度測試儀

　　美國EXTECH多用途萬用表

　　美亞板材厚度測試儀、銅箔剝離強度儀

　　多年來，我們一直致力于為PCB廠商，電鍍行業(yè)，科研機構(gòu)，半導(dǎo)體生產(chǎn)等電子行業(yè)提供高性能的儀器和優(yōu)質(zhì)的售后服務(wù)。讓客戶滿意，為客戶創(chuàng)造最大的價值是我們始終追求的目標(biāo)，因為我們堅信，客戶的需要就是我們前進的動力。愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發(fā)展藍(lán)圖!

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龍定國
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韓國Micro Pioneer XRF 2000 X射線鍍層測厚儀/膜厚儀產(chǎn)品介紹X 螢光射線膜厚分析儀是利用 XRF 原理來分析測量金屬厚度及物質(zhì)成分，可用於材料的涂層 / 鍍層厚度、材料組成和貴金屬含量檢測。 XRF-2000 系列分為以下三種：
1. H-Type :密閉式樣品室，方便測量的樣品較大，高度約100mm以下。
2. L-Type : 密閉式樣品室，方便測量 樣品較小，高度約30mm以下。
3. PCB-Type : 開放式樣品室，方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下的量測 。
應(yīng)用 :
測量鍍金、涂層、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可偵測元素的范圍： Ti(22)~U(92 )。
行業(yè) :
五金類、螺絲類、 PCB 類、連接器端子類行業(yè)、電鍍類等。
特色 :
非破壞，非接觸式檢測分析，快速精準(zhǔn)。
可測量高達六層的鍍層 (五層厚度 + 底材 ) 并可同時分析多種元素。
相容Microsoft微軟作業(yè)系統(tǒng)之測量軟體，操作方便，直接可用Office軟體編輯報告 。
全系列獨特設(shè)計樣品與光徑自動對準(zhǔn)系統(tǒng)。
標(biāo)準(zhǔn)配備: 溶液分析軟體 ，可以分析電鍍液成份與含量。
準(zhǔn)直器口徑多種選擇，可根據(jù)樣品大小來選擇準(zhǔn)值器的口徑。
移動方式：全系列全自動載臺電動控制，減少人為視差 。
獨特2D與3D或任意位置表面量測分析。
雷射對焦，配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。 標(biāo)準(zhǔn)ROI軟體 搭配內(nèi)建多種專業(yè)報告格式，亦可將數(shù)據(jù)、圖形、統(tǒng)計等作成完整報告 。 光學(xué)2 0X 影像放大功能，更能精確對位。 單位選擇： mils 、 uin 、 mm 、 um 。
優(yōu)於美製儀器的設(shè)計與零件可 靠度以及擁有價格與零件的優(yōu)勢。
儀器正常使用保固期一年，強大的專業(yè)技術(shù)支援及良好的售后服務(wù)。
測試方法符合 ISO 3497 、 ASTM B568 及 DIN 50987。 韓國Micro Pioneer 還推出一款元素分析及測厚兩用的XRF-2000R型號Micro Pioneer XRF-2000R X光鍍層測厚儀及ROHS元素分析儀是在XRF-2000系列測厚儀的基礎(chǔ)上增加了元素分析及有害物質(zhì)檢測的功能，其物點為：高分辨率，固態(tài)探測器; 可分析超薄樣品分析有害物質(zhì)，元素分析分之 ppm - 100％, 符合RoHS / WEEE標(biāo)準(zhǔn)測試以及ELV指令優(yōu)化的應(yīng)用;可測量多層鍍層厚度及錫鉛成分分析；電鍍?nèi)芤悍治?；定性分析超過30種元素,能夠測量液體，固體，粉末，薄膜和不規(guī)則形狀；貴金屬元素含量和分析(金，銀，鉑，和珠寶)；自動過濾器，多準(zhǔn)直儀(五個準(zhǔn)直器，從0.1mm-3.0mm)和全自動XYZ移動樣品臺；性價比超強的元素分析及鍍層測厚雙功能分析儀器儀器尺寸：W610mm D670mm H490mm, 重量：75Kg (net) 可測量樣器大?。篧550mm D550mm H30mm
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