隨著半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)走入芯片融合時代，工藝和應(yīng)用的復(fù)雜度不斷提升，想要生產(chǎn)出好的產(chǎn)品，“測試先行”尤為重要。測試設(shè)備主要用于半導(dǎo)體制造過程中檢測芯片性能與缺陷，幾乎每一道工藝完成后都要進行，其中溫度控制貫穿于整個測試環(huán)節(jié)的始末。

宇電合作伙伴中，江蘇某高端測試儀器和設(shè)備供應(yīng)商，專業(yè)從事光網(wǎng)絡(luò)測試、光芯片測試、電性能測試和功率芯片測試。自2020年起，激光器芯片老化測試需求激增，對溫控器品質(zhì)和性能的要求苛刻，一直在尋求激光器老化設(shè)備的理想溫控解決方案。

通過對比驗證，宇電AI-7548D71溫控器在控制效果、通訊速度、安全性與穩(wěn)定性方面完全滿足該設(shè)備供應(yīng)商在不同測試場景下的多樣化需求。提升測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。

客戶評價：“我們曾在設(shè)備上進行過不同品牌溫控系統(tǒng)的控制測試。結(jié)果顯示，宇電AI-7548D71溫控模塊的控制效果明顯優(yōu)于其他品牌，與品牌控溫效果一致?！?/span>

宇電多路溫控器 全面提升設(shè)備控制品質(zhì) 

激光器老化測試設(shè)備的溫度一般為40-150℃，芯片對溫度變化極為敏感，任何微小的波動將對測試結(jié)果產(chǎn)生顯著影響，宇電制定的溫度控制方案為設(shè)備生產(chǎn)商解決生產(chǎn)難題。

溫控，提高篩選不良品效率

宇電AI-7548D71溫控器搭載的高APID自整定自適應(yīng)算法，將外部干擾引起的溫度波動控制在小限度內(nèi)，提供穩(wěn)定測試環(huán)境，幫助設(shè)備商篩選出，因溫度極端變化導(dǎo)致的焊料老化、分層、鍵合線脫落、斷裂的不良芯片。

多通道控制，功能靈活

老化設(shè)備同時測試多顆芯片，需要對每個測試夾具中的溫度進行單獨控制，觀察芯片在極端環(huán)境中的表現(xiàn)。

宇電AI-7548D71溫控器具有多通道控制功能，靈活性強，確保每個芯片都能在其特定的溫度條件下進行測試，進一步提高測試的準(zhǔn)確性和可靠性。

精巧設(shè)計，節(jié)省安裝空間

為提高結(jié)果準(zhǔn)確性，要在大量樣本上進行測試，溫控點位增多，而老化測試設(shè)備集成度高，柜內(nèi)空間有限。宇電AI-7548D71溫控器設(shè)計精巧，寬度僅22.5mm，單臺儀表集成4路控制功能，節(jié)省寶貴的安裝空間。

結(jié)語

宇電AI-7548D71工業(yè)溫控器除應(yīng)用在半導(dǎo)體制造環(huán)節(jié)，還可應(yīng)用于如鋰電等多種行業(yè)，降本增效，節(jié)約能耗，實現(xiàn)價值大化。

隨著全球?qū)π酒枨蟮募ぴ?，晶圓廠、設(shè)備商和供應(yīng)鏈的所有環(huán)節(jié)都在不斷優(yōu)化工藝，利用新技術(shù)盡可能提高產(chǎn)能和品質(zhì)。宇電將繼續(xù)與工業(yè)客戶緊密合作，利用的溫控技術(shù)幫助客戶縮短測試周期，持續(xù)提升測試良率，優(yōu)化成本控制，幫助客戶在激烈的市場競爭中脫穎而出，用科技賦能半導(dǎo)體等行業(yè)高質(zhì)量發(fā)展。