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系統(tǒng)的核心, Trimos DHM? (數(shù)字全息顯微鏡), 源于在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域采用的技術(shù)，系統(tǒng)本身基于表面結(jié)構(gòu)的物理信息特征分析，采用這種技術(shù)用于工業(yè)領(lǐng)域表面檢查為T(mén)rimos專有。它與其它產(chǎn)品相比較zui大的在于可以測(cè)量反射非常大的表面，鏡面拋光后或者很小平面。特別高的測(cè)量速度和納米級(jí)的測(cè)量范圍是它的突出優(yōu)點(diǎn)。只需要幾豪秒時(shí)間就可以獲得一百萬(wàn)點(diǎn)的尺寸圖像三維數(shù)據(jù). 如此高的測(cè)量速度使它完全可以忽略因振動(dòng)引起的測(cè)量問(wèn)題。它內(nèi)部的測(cè)量頭可互換可以使用測(cè)頭（接觸測(cè)量）。多樣的選擇使它在多種工業(yè)領(lǐng)域的加工后表面結(jié)構(gòu)測(cè)量都可使用如（所有經(jīng)加工過(guò)的表面），應(yīng)用領(lǐng)域如汽車(chē)和航空工業(yè)、表面涂敷、聚合涂層、在光學(xué)元件、醫(yī)療儀器、微型機(jī)電系統(tǒng)、半導(dǎo)體研發(fā)和質(zhì)量控制等。

特點(diǎn)：
◆ 測(cè)量速度快
◆ 對(duì)振動(dòng)不敏感
◆ 垂向分辨率到納米級(jí)??
◆ 采用激光找正非常容易實(shí)現(xiàn)工件定位
◆ 非接觸測(cè)量，無(wú)損檢測(cè)
◆ 高技術(shù)的軟件配置
◆ 分析表面形貌和結(jié)構(gòu)
◆ 預(yù)先設(shè)定測(cè)量程序
◆ 二維和三維標(biāo)準(zhǔn)兼容

軟件（附加/選項(xiàng)模塊）：
NanoWare XT : (2D)用于二維輪廓分析的全套軟件
NanoWare XT : (2D)用于二維輪廓分析的全套軟件
NanoWare XTT : (2D and 3D)二維三維輪廓分析的模塊軟件
NanoWare PRO : 二維三維輪廓分析的所有模塊軟件

測(cè)量頭：
DHM S1 :用于光亮表面粗糙度測(cè)量頭
DHM S2 :中等范圍的表面粗糙度
DIA P1 :有金剛石測(cè)頭的測(cè)量頭

標(biāo)準(zhǔn)配置如下：
根據(jù)要求配置的儀器，不含測(cè)量頭
用戶手冊(cè)
電腦和觸摸屏
TR Scan 101,無(wú)工作臺(tái)，軟件NanoWare LT，僅用于DHM S1 & DHM S2測(cè)量頭
TR Scan 201,單軸測(cè)量工作臺(tái)，NanoWare LT軟件，僅用于DHM S1 & DHM S2測(cè)量頭
TR Scan 301,雙軸測(cè)量工作臺(tái)，NanoWare LT軟件，僅用于DHM S1 & DHM S2測(cè)量頭
TR Scan 102,無(wú)工作臺(tái)，軟件NanoWare LT，僅用于DHM S1 & DHM S2測(cè)量頭
TR Scan 202,單軸測(cè)量工作臺(tái)，NanoWare LT軟件，僅用于DHM S1 & DHM S2測(cè)量頭
TR Scan 302,雙軸測(cè)量工作臺(tái)，NanoWare LT軟件，僅用于DHM S1 & DHM S2測(cè)量頭